ICT測試參數(shù)的調(diào)整方法
時間:2021-08-13| 作者:admin
CB板ICT測試點設(shè)置調(diào)整方法:
ICT 與萬用表類似,只是將測試引線替換為測試引腳,那么問題就很簡單了。一個普通的 RLC 組件必須有兩個測試點才能進行測試,當然一個測試點可以用于同一網(wǎng)絡(luò)上共享的節(jié)點,一般建議在覆蓋率在85%以上時加入ICT測試。
ICT是在產(chǎn)品不通電時,機器測試產(chǎn)品上各元件的電阻、容量、電感、通斷性等參數(shù)。
FCT是ICT和功能測試的結(jié)合,即完成ICT測試步驟后,轉(zhuǎn)入產(chǎn)品開機狀態(tài),測試產(chǎn)品正常運行時的參數(shù)。這樣做的好處是您不必再次服用該產(chǎn)品。
測試點設(shè)計要求:
1.定位孔采用非金屬化定位孔,誤差小于0.05mm,定位孔周圍3mm范圍內(nèi)不應(yīng)有元件。
2.測試點的直徑不小于0.8mm,測試點之間的距離不小于1.27mm,測試點與元件的距離不小于1.27mm,否則錫會流入測試點。
3.如果將高度大于4mm的元件放置在測試面上,避開旁邊的測試點,距離大于4mm,否則無法植入測試治具。
4.每個電氣節(jié)點必須有一個測試點,每個IC必須有POWER和GROUND測試點,并盡可能靠近這個元件,[敏感詞]距離IC2.5mm以內(nèi)。
5.測試點不能被阻焊或文字油墨覆蓋,否則會減少測試點的接觸面積,降低測試的可靠性。
6.測試點不能被插件或大型組件覆蓋或遮擋。
7.不要使用過孔或DIP元件焊點作為測試點。
ICT針植入率需要達到100%,元件可測試率需要達到85%以上。



